En el post anterior, se explicaron las restricciones de arquitectura para una SIF, de acuerdo con la Ruta 1H de la norma IEC 61508, basada en la Fracción de Falla Segura (Tasas de Falla Segura y Peligrosas) de los elementos de las SIF y los tipos de dispositivos (Tipo A y Tipo B). Sin embargo, cuando la SIF está operando y sus instrumentos no poseen un certificado del fabricante que indique las tasas de falla y su SFF, es difícil darle crédito por la Ruta 1H, por lo que, en estos casos, se usa la Ruta 2H.
Las características principales de esta ruta son:
• Es usada para los dispositivos bajo el concepto de Prior in Use.
• Está basada en la retroalimentación de los datos de las tasas de falla de los dispositivos de campo que son usados en una aplicaciones similares y entornos similares, y debe ser evaluada de acuerdo con:
– La cantidad de datos recopilados.
– El juicio de expertos.
– Y, cuando sea necesario, pruebas específicas.
• Se requiere un sistema de recopilación de datos de alta calidad de acuerdo con estándares internacionales, por ejemplo, IEC 60300-3-2 o ISO 14224.
• No toma en cuenta la SFF.
• Tiene una sola tabla para los dispositivos Tipo A y Tipo B.
En la tabla 1, se muestra un resumen del mínimo de HFT requerido, de acuerdo con Ruta 2H de la norma IEC 61508, en su cláusula 7.4.4.3.
Tabla 1. Ruta 2H. IEC 61508
|
SIL
|
Mínimo HFT Requerido
|
|
1 (Cualquier modo)
|
0
|
|
2 (Modo Bajo Demanda)
|
0
|
|
2 (Alta demanda, o modo continuo) *
|
1
|
|
3 (Cualquier modo) *
|
1
|
|
4 (Cualquier modo) *
|
2
|
* Sólo para elementos tipo A, si el HFT escogido resulta en una arquitectura que desmejora la seguridad del proceso, se puede:
– Reducir el HFT, justificando y documentando la reducción de la arquitectura y la desmejora de la seguridad argumentada.
– Si el HFT = 0, se debe proporcionar evidencia de que los modos de falla peligrosa pueden ser excluidos.